Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Bínet y Simón

Lewis M. Terman

Medición de la inteligencia exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Bínet y Simón / Lewis M Terman Medición de la inteligencia: exposición y guía para el uso de la revisión y extensión de Stanford de la escala de Bínet y Simón

[1740707 - PC102]

Psicología
[s.n.]. 24 cm. IV, 275 p. Encuadernación en tapa dura artesanal con dorados. Traducida por Federico Calvo y Luis F. Pérez. Imp. Nacional . Cubierta deslucida.
Precio: 6.5 Comprar
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